4000-355-376
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簡要描述：CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統(tǒng)。 Z多可一次安放九個樣品，優(yōu)化設(shè)計的光譜儀能夠同時檢測 III、V族摻雜元素（如硼、磷等淺雜質(zhì)態(tài)）在單晶硅中的硅中取代碳,間隙氧含量的測定等.半導體行業(yè)檢測設(shè)備。
產(chǎn)品型號：CryoSAS 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2016-09-18訪 問 量：4310產(chǎn)品分類
詳細介紹
| 品牌 | Bruker/布魯克 |
|---|
•半導體分析光譜儀CryoSAS
CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統(tǒng)。
CryoSAS*地將高性能的布魯克FT-IR光譜技術(shù)與現(xiàn)代化與方便實用的低溫閉循環(huán)致冷系統(tǒng)結(jié)合在一起，擺脫了通常進行高靈敏度檢測時對液氦的依賴。CryoSAS的全部組件都采用了*的一體化和人性化的結(jié)構(gòu)設(shè)計理念，使得這樣的系統(tǒng)能夠適應(yīng)硅材料生產(chǎn)中的不同使用環(huán)境。
CryoSAS系統(tǒng)的主要指標為：
光譜范圍：1500-280cm-1
半導體分析可安裝九個樣品的樣品架,樣品的尺寸：zui多可一次安放九個樣品，樣品的尺寸為：直徑或邊長為10mm的圓形或方形樣品，厚度為2.5~5mm
光譜分辯率：0.5cm-1
優(yōu)化設(shè)計的光譜儀能夠同時檢測 III、V族摻雜元素(如硼、磷等淺雜質(zhì)態(tài))在單晶硅中的硅中取代碳,間隙氧含量的測定等。
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